研究人員利用原位TEM技術揭示ZnO微/納米線疲勞行為

　　在張躍教授的指導下，李培峰與中科院物理所的合作者利用原位TEM機械共振，研究了ZnO微/納米線在高周應變下的疲勞行為。系統(tǒng)研了ZnO微/納米線的彈性模量隨直徑的變化以及ZnO微/納米線共振振幅在阻尼效應作用下隨共振時間及周次衰減的區(qū)別。ZnO微/納米線經過108−109周次共振都顯示了良好的疲勞性能，而遭受電子束輻照10 min后的ZnO納米線共振幾秒后即發(fā)生斷裂，這在國際上尚屬首次發(fā)現(xiàn)。

　　研究結果為我們設計、構建、優(yōu)化及應用基于ZnO納米材料的力電納米器件提供了有益的指導，也為工作在紫外光、X射線下的納米材料及器件的安全服役提供了參考。

　　另外，李培峰還利用自己實驗室搭建的納米操控系統(tǒng)研究了ZnO納米線在電場中的服役行為。研究發(fā)現(xiàn)ZnO納米線電致?lián)p傷的閾值電壓隨直徑的增大呈線性增大，而電流密度隨直徑的增大呈指數(shù)減小。并提出了熱核-殼模型對ZnO納米線的電致?lián)p傷機制進行解釋。納米材料電致?lián)p傷研究對指導光電、力電和壓電納米器件的實際應用是非常有必要的。

　　此外一系列利用AFM研究ZnO納米線在力場及力電耦合場中的服役行為的研究結果尚未公開發(fā)表。